ZEISS uvádí na trh nový Crossbeam 550 Samplefab FIB-SEM

Nová platforma pro přípravu TEM s nejlepší automatizací v oboru.
- Příprava lamel bez použití rukou od sypkých až po zředěné - vytvoření 10 lamel za méně než 8 hodin
- Nový a uživatelsky přívětivý ovládací software zlepšuje stabilitu a použitelnost
- Ztenčování až na 100 nm u různých typů polovodičových vzorků
- Vlastní technologie vytahování zajišťuje vynikající výtěžnost automatizace
Společnost ZEISS představuje nový ZEISS Crossbeam 550 Samplefab, skenovací elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM) optimalizovaný pro plně automatizovanou přípravu vzorků pro transmisní elektronovou mikroskopii (TEM) (lamely). Model ZEISS Crossbeam 550 Samplefab, který byl zkonstruován pro efektivitu a výkonnost v polovodičové laboratoři, poskytuje automatizaci založenou na předpisech pro rutinní práce spojené s přípravou vzorků TEM, tj. hromadné frézování, vytahování a ztenčování v libovolném počtu cílových bodů na vzorku. Řešení slibuje výtěžnost automatizace > 90 % při zpracování lamel z objemového vzorku na TEM mřížku bez zásahu obsluhy. Automatizované kontroly umožňují lidské zásahy, aby se zajistilo, že během zpracování nedojde ke ztrátě lamel, což zvyšuje úspěšnost zpracování lamel na 100 %.

Datum: 12.11.2024

elektronová mikroskopie - příprava vzorků