Věda a výzkum       Vesmír       Osel       Chemagazín TOPlist CZ     EN       Kontakt
Laboratorní průvodce - na titulní stranu
Databáze:   Pro laboratoř        Firmy        Zastoupení        E-obchody 
Hledání:  
 
Ostatní:       Nástroje        Encyklopedie        Tabulky 
Kalendář :   1.7.2025 - 3.7.2025 Microscience Microscopy Congress 2025
  3.9.2025 - 5.9.2025 Odběry vzorků, kurz
  7.9.2025 - 10.9.2025 Biochemický kongres of Czech and Slovak Societies for Biochemistry & Molecular Biology
  15.9.2025 - 17.9.2025 Kurzy Molekulové spektroskopie
  29.9.2025 - 1.10.2025 Anorganická analýza, kurz
Reklama
Odkaz na tento článek je zde publikován s laskavostí serveru Labbulletin. Klikněte na titulek:

Společnost Thermo Fisher Scientific uvádí na trh rychlý a flexibilní analyzátor prvků, který zlepšuje řízení průmyslových procesů díky přidaným možnostem XRD

Společnost Thermo Fisher Scientific uvedla na trh spektrometr Thermo Scientific™ ARL™ X900 XRF, který lépe reaguje na jedinečné potřeby vedoucích pracovníků laboratoří v metalurgii, důlních a cementářských závodech a nabízí řešení, která nabízejí vyšší přesnost, efektivitu a všestrannost. Spektrometr ARL X900 XRF dokáže analyzovat více než dvacet prvků za méně než jednu minutu, nabízí výjimečnou rychlost a spolehlivost a staví na základech známého spektrometru Thermo Scientific™ ARL™ 9900 XRF.

Díky vyšší přesnosti a všestrannosti umožní spektrometr ARL X900 XRF vedoucím laboratoří zefektivnit provoz, snížit výrobní náklady a zvýšit celkovou efektivitu v průmyslovém prostředí. Jedinečná kombinace plnohodnotného goniometru XRF, vysoce výkonných pevných kanálů a zavaděče se dvěma vzorky nabízí uživatelům vyšší flexibilitu a propustnost pro kontrolu průmyslových procesů. Spektrometr ARL X900 se zaměřením na zvýšení efektivity a přesnosti integruje pokročilé funkce XRF a XRD v jednom přístroji, což umožňuje komplexní charakterizaci materiálu a fázovou analýzu pro aplikace, jako je cement, přímo redukované železo (DRI) a tavení hliníku.
(detaily jsou v angličtině)

Datum: 3.2.2025

spektrometrie, analýza prvků

Reklama
Reklama

Reklama